三廂冷熱沖擊試驗(yàn)箱

三廂冷熱沖擊試驗(yàn)箱新一代外觀設(shè)計(jì)，箱體結(jié)構(gòu)、制冷系統(tǒng)、控制技術(shù)均做較大改進(jìn)，技術(shù)指標(biāo)更加穩(wěn)定，運(yùn)行更可靠，維護(hù)更方便，備有高檔萬向滾輪，方便在實(shí)驗(yàn)內(nèi)移動(dòng)。

產(chǎn)品品牌：其他品牌

價(jià)格：我要詢價(jià)

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

產(chǎn)品時(shí)間： 2025-06-16

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產(chǎn)品概述

一、三廂冷熱沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品介紹

廣泛使用于航空航天、Jun用單位、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等，同時(shí)可通過此試驗(yàn)，進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

二、三廂冷熱沖擊試驗(yàn)箱執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法

GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）；

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)；

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)；

GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)；

GJB150.3A-2009Jun用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)；

GJB150.4A-2009Jun用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：低溫試驗(yàn)；

GJB150.5-1986溫度沖擊試驗(yàn)；

三、技術(shù)指標(biāo)

	型號(hào)	工作室尺寸（mm）D×W×H	外形（mm）D×W×H（約）		電源50HZ 總共率
	XF/GDWCJ-80L	400×400×500	1500×1600×2020		380V/18KW
	XF/GDWCJ-100L	400×500×500	1500×1700×2020		380V/18.5KW
	XF/GDWCJ-150L	500×500×600	1600×1700×2100		380V/19.5KW
	XF/GDWCJ-225L	750×600×500	2000×1800×2100		380V/19.5KW
	XF/GDWCJ-250L	700×630×550	2000×2000×2100		380V/20KW
	XF/GDWCJ-500L	800×800×800	2500×2500×2100		380V/23W
	XF/GDWCJ-010L	1000×1000×1000	3500×3500×2200		380V/25KW
	XF/GDWCJ-015L	1500×1000×1000	4200×3800×3800		380V/28KW
溫度	高溫室	RT~200℃（按要求）
	低溫室	RT~-70℃（按要求）
	測試區(qū)溫度	-40、-50、-60℃~120、150℃ （按要求選定）
	溫度波動(dòng)度≤±0.5℃	溫度均勻度≤±2℃		d 噪音Noise（dB）≤65
升降溫速率	升溫	60min/ RT~200℃
	降溫	60min/ 0~-70℃
試驗(yàn)方式	溫度轉(zhuǎn)換	氣動(dòng)風(fēng)門切換，換氣式
	氣門切換時(shí)間	≤5S
	溫度恢復(fù)時(shí)間	≤5min
控制器	上海頌華日本 OYO 韓國進(jìn)口溫控儀表，操作簡單，設(shè)定方便，控制精度0.01℃，超出1200段編程
備注	非標(biāo)特殊要求Special requirements for non-standard，可定做Can be customized